導波雷達物位計
原 理：
導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由于介電常數突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。
特 點：
由于采用了先進的微處理器和獨特的choDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式，使得DDKJ700系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數介質等。
采用脈沖工作方式，導波雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環(huán)境均無傷害。
說 明：
導波雷達是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收，并將距離信號轉化為物位信號。
反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由脈沖軟件完成，距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T 成正比：
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為：
L=E-D
通過輸入空罐高度E（=低點），滿罐
高度F（=滿量程）及一些應用參數來設定，應用參數將自動使儀表適測
量環(huán)境，對應于4－20mA輸出。
測量范圍：
說明：
H----測量范圍
L----空罐距離
B----頂部盲區(qū)
E----探頭到罐壁的距離
頂部盲區(qū)是指物料高料面與測量參考點之間的距離。
底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無法準確測量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意：
只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時，才能保證罐內物位的可靠測量。
產品簡介
DHRD70D導波雷達物位計
適用介質：液體，固體粉料
應 用：液體及固體粉狀測量，復雜過程條件
防爆認證：Exia IIC T6 Ga/ Exd ia IIC T6 Gb
測量范圍： 30m
頻 率：500MHz-1.8GHz
天 線：單纜或單桿式天線
測量精度：±10mm
過程溫度：（-40～250）℃
過程壓力：（-0.1～4）MPa
信號輸出：（4～20）mA/HART
現場顯示：四位LCD 可編程
電 源：兩線制（DC24V）/四線制（DC24V/AC220V）
外 殼：鋁/ 塑料
過程連接：螺紋/法蘭（選配）
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